GermanWikipedia - /page/entry.mu

Micron Document

<!DOCTYPE html>

<title>Highly Accelerated Life Test</title>

</head>

<h1 id="firstHeading" class="firstHeading mw-first-heading"><span class="mw-page-title-main">Highly Accelerated Life Test</span></h1>

</header>

</div>

<p>Ein <b>Highly Accelerated Life Test</b> (abgekürzt <b>HALT</b>, <a href="Englische_Sprache" title="Englische Sprache">englisch</a> für <i>stark beschleunigte Grenzlastprüfung</i>) ist ein qualitatives Testverfahren mit dem Ziel, vorzugsweise elektronische und elektromechanische <a href="Baugruppe" title="Baugruppe">Baugruppen</a> noch im Entwicklungsstadium einer beschleunigten <a href="Verschlei%C3%9F" title="Verschleiß">Alterung</a> auszusetzen, um Schwachstellen und <a href="Design" title="Design">Designfehler</a> aufdecken zu können. Die dabei gewonnenen Erkenntnisse fließen in das Gerätedesign und den Produktionsprozess ein, wodurch die <a href="Robustheit" title="Robustheit">Robustheit</a> und damit die <a href="Zuverl%C3%A4ssigkeit_(Technik)" title="Zuverlässigkeit (Technik)">Zuverlässigkeit</a> des Produktes verbessert werden. Das Verfahren wird seit den 1980er Jahren angewandt.

</p>

<div class="mw-heading mw-heading2"><h2 id="Geschichte">Geschichte</h2></div>

<p>Das HALT-Verfahren hat seinen Ursprung im Environmental Stress Screening (ESS) aus den 1960er-Jahren. Die Weiterentwicklung zu einem Testverfahren, bei dem mit <a href="Belastung_(Physik)" title="Belastung (Physik)">Belastungen</a> oberhalb der Produktspezifikation getestet wird, stieß anfangs auf Ablehnung und stellte einen Paradigmenwechsel dar. In der folgenden Zeit wurden verschiedene Testverfahren, die diesem Prinzip folgten, wie der Stress for Life (STRIFE) oder der Accelerated Stress Test (AST), beschrieben und angewandt. Um sich von anderen Verfahren zu differenzieren, kreierten Gregg K. Hobbs und seine Frau Virginia im Jahr 1988 den Begriff Highly Accelerated Life Test und dessen Akronym HALT.<sup id="cite_ref-1" class="reference"><a href="#cite_note-1"><span class="cite-bracket">[</span>1<span class="cite-bracket">]</span></a></sup> Hobbs hatte zuvor über Jahre an der Entwicklung dieses Verfahrens und des dazu benötigten Equipments gearbeitet. Heute wird das HALT-Verfahren vorwiegend von amerikanischen Firmen dazu eingesetzt, die Zuverlässigkeit von Produkten zu verbessern.<sup id="cite_ref-2" class="reference"><a href="#cite_note-2"><span class="cite-bracket">[</span>2<span class="cite-bracket">]</span></a></sup> Im Weiteren hat es sich in verschiedene Standards und Normen wie der <a href="IPC_(Organisation)" title="IPC (Organisation)">IPC</a>9592A<sup id="cite_ref-3" class="reference"><a href="#cite_note-3"><span class="cite-bracket">[</span>3<span class="cite-bracket">]</span></a></sup><sup id="cite_ref-4" class="reference"><a href="#cite_note-4"><span class="cite-bracket">[</span>4<span class="cite-bracket">]</span></a></sup> oder der <a href="Deutsches_Institut_f%C3%BCr_Normung" title="Deutsches Institut für Normung">DIN EN</a> 62506:2014-03<sup id="cite_ref-5" class="reference"><a href="#cite_note-5"><span class="cite-bracket">[</span>5<span class="cite-bracket">]</span></a></sup> etabliert.

</p>

<div class="mw-heading mw-heading2"><h2 id="Zielsetzung">Zielsetzung</h2></div>

<p>Die Zielsetzung eines HALT ist in erster Linie das Aufdecken von Schwachstellen im Gerätedesign und Herstellungsprozess innerhalb kürzester Zeit und mittels einer kleinen Anzahl von Prototypen. Dies wird mittels einer extremen Beschleunigung des Alterungs- und Schädigungsprozesses durch Belastung mit <a href="Temperatur" title="Temperatur">Temperatur</a>, <a href="Vibration" title="Vibration">Vibration</a> und schnellen Temperaturwechseln erreicht. Hierdurch treten Ausfälle frühzeitig auf. Jede so aufgedeckte Schwachstelle bietet die Möglichkeit, das Gerätedesign oder den Produktionsprozess zu verbessern. Infolge der Verbesserungsmaßnahmen wird die Robustheit des Produktes erhöht und somit dessen Zuverlässigkeit. Des Weiteren werden durch den HALT die Entwicklungszeit verkürzt und letztlich die Kosten gesenkt.<sup id="cite_ref-6" class="reference"><a href="#cite_note-6"><span class="cite-bracket">[</span>6<span class="cite-bracket">]</span></a></sup>

</p>

<div class="mw-heading mw-heading2"><h2 id="Grundgedanke">Grundgedanke</h2></div>

<p>Der Grundgedanke des HALT beruht auf der Annahme, dass die im HALT auftretenden Fehlerbilder und Ausfallarten die Gleichen sind, wie sie später in der erwarteten Lebensdauer des Produktes beobachtet werden. Zudem wird von der Voraussetzung ausgegangen, dass Belastungen zyklisch auftreten; zum Beispiel ist die Umgebungstemperatur im Freien tagsüber höher als nachts. Der dabei angenommene Zusammenhang von der Anzahl der Belastungszyklen bis zum Ausfall im Feld ist schematisch in der Abbildung 1 dargestellt. Die Zyklenzahl und die Belastung nehmen in der Darstellung vom Koordinatenursprung aus zu. Unter Einfluss des Feldstresses S<sub>0</sub> fällt ein Produkt nach der Zyklenzahl N<sub>0</sub> aus. Beim HALT wird die Belastung beispielsweise auf S<sub>2</sub> erhöht, um die Anzahl der Zyklen bis zum Ausfall auf N<sub>2</sub> zu senken und somit eine Beschleunigung der Alterung zu erreichen. Dieser Sachverhalt gilt für alle Komponenten eines Produktes, es gibt unter Umständen Unterschiede in der Steigung, zudem ist der Zusammenhang oft nichtlinear. Dies ändert jedoch nichts an dieser Grundannahme für das Produkt. Der Belastungsstress kann wiederum nicht ins Unendliche gesteigert werden, ohne den Fehlermechanismus zu ändern. Dieser Punkt wird fundamentale technologische Grenze genannt.<sup id="cite_ref-7" class="reference"><a href="#cite_note-7"><span class="cite-bracket">[</span>7<span class="cite-bracket">]</span></a></sup>

</p>

<div class="mw-heading mw-heading2"><h2 id="Equipment">Equipment</h2></div>

<caption>Tabelle 1: <i>Technische Parameter der Prüfkammer Star Galaxy 36 Deluxe</i><sup id="cite_ref-8" class="reference"><a href="#cite_note-8"><span class="cite-bracket">[</span>8<span class="cite-bracket">]</span></a></sup>

</caption>

<th>Parameter</th>

<th>Größe

</th></tr>

<tr>

<td>Temperaturbereich</td>

<td style="text-align:center">−100 … +200 °C

</td></tr>

<tr>

<td>Heizgeschwindigkeit</td>

<td style="text-align:center">max. 70 K/min

</td></tr>

<tr>

<td>Kühlgeschwindigkeit</td>

<td style="text-align:center">max. 70 K/min

</td></tr>

<tr>

<td>Tischabmessungen</td>

<td style="text-align:center">915 mm × 915 mm

</td></tr>

<tr>

<td>Vibrationsbandbreite (fest)</td>

<td style="text-align:center">5 … 10.000 Hz

</td></tr>

<tr>

<td>Vibrationsbandbreite</td>

</td></tr>

<tr>

<td>Kammerabmessung (B×H×T)</td>

<td style="text-align:center">122 cm × 106,5 cm × 129,5 cm

</td></tr></tbody></table>

<p>Für einen HALT-Test werden spezielle HALT-Kammern verwendet, in denen der Prüfling auf einen Vibrationstisch fixiert werden kann. Der Prüftisch kann mittels druckluftbetriebener Hämmer in sechs <a href="Freiheitsgrade" class="mw-redirect" title="Freiheitsgrade">Freiheitsgraden</a> nach dem Zufallsprinzip angeregt werden. Die Belastungsenergie der so erzeugten Vibrationen wird in G<sub><a href="Effektivwert" title="Effektivwert">rms</a></sub> angegeben.<sup id="cite_ref-9" class="reference"><a href="#cite_note-9"><span class="cite-bracket">[</span>9<span class="cite-bracket">]</span></a></sup> Die Kammern haben einen Temperaturbereich von −100 °C bis +200 °C, mit möglichen Temperaturgradienten von bis zu 80 <a href="Kelvin" title="Kelvin">K</a>/min. Dies wird mit starken elektrischen Heizelementen und einer Stickstoffkühlung erreicht. Damit die <a href="Thermische_Energie" title="Thermische Energie">thermische Energie</a> möglichst effektiv auf den Prüfling einwirken kann, wird sie mittels Luftleitschläuchen geleitet. In der Tabelle 1 sind typische technische Parameter einer HALT-Kammer angegeben.

</p>

<div class="mw-heading mw-heading2"><h2 id="Prüflinge"><span id="Pr.C3.BCflinge"></span>Prüflinge</h2></div>

<p>Die Prüflinge, die im HALT verwendet werden sollen, müssen vor dem Test so vorbereitet werden, dass deren Betrieb und Funktionsüberwachung von außerhalb der HALT-Kammer möglich ist. Zusätzlich können Temperatur- und Beschleunigungssensoren an den verwendeten Prototypen angebracht werden, um den einwirkenden Belastungsstress dokumentieren zu können. In den Prüflingen implementierte Schutzmechanismen müssen für den HALT ggf. außer Funktion gesetzt werden, weil sich ansonsten die Prüflinge selber schützen und Fehlerbilder nicht angeregt werden können.

</p>

<div class="mw-heading mw-heading2"><h2 id="Vorgehensweise">Vorgehensweise</h2></div>

<p>Im Folgenden wird das Vorgehen und die einzelnen Prüfungen beim HALT beschrieben. Die gesamte Vorgehensweise und auftretende Ereignisse während der Durchführung der einzelnen Prüfschritte müssen sorgfältig dokumentiert werden. Während der Tests auftretende Schäden am Prüfling müssen einer präzisen Fehleranalyse unterzogen werden und Verbesserungsmaßnahmen am Produkt zur Folge haben. Danach können die Beschädigungen behoben werden, so dass der Test mit dem entsprechenden Prüfling fortgeführt werden kann. Ein Defekt ist kein Beendigungskriterium, sondern stellt ein gewünschtes Zwischenergebnis dar. Ein HALT ist wie in Abbildung 2 dargestellt ein 360°-Prozess der im Idealfall bis zu den fundamentalen technologischen Grenzen durchgeführt wird.<sup id="cite_ref-10" class="reference"><a href="#cite_note-10"><span class="cite-bracket">[</span>10<span class="cite-bracket">]</span></a></sup>

</p>

<div class="mw-heading mw-heading3"><h3 id="Kältestufenprüfung"><span id="K.C3.A4ltestufenpr.C3.BCfung"></span>Kältestufenprüfung</h3></div>

<p>Der HALT wird mit der Kältestufenprüfung begonnen, weil diese sich gewöhnlich am wenigsten zerstörend auf den Prüfling auswirkt. Begonnen wird bei einer Umgebungstemperatur von 20 °C, die in 10 K-Schritten herabgesetzt wird, bis die untere Betriebsbelastungsgrenze <i>(Lower Operating Limit)</i> für die Temperatur erreicht wird. Danach wird die untere Zerstörungsgrenze <i>(Lower Destruct Limit)</i> bestimmt, wenn dies möglich ist. Die jeweilige Verweilzeit in jeder Stufe beträgt ungefähr 10 Minuten. Diese Zeit wird benötigt, damit sich der Prüfling thermisch einschwingt und die Funktion überprüft werden kann.<sup id="cite_ref-Silverman_11-0" class="reference"><a href="#cite_note-Silverman-11"><span class="cite-bracket">[</span>11<span class="cite-bracket">]</span></a></sup><sup id="cite_ref-McLean1_12-0" class="reference"><a href="#cite_note-McLean1-12"><span class="cite-bracket">[</span>12<span class="cite-bracket">]</span></a></sup>

</p>

<div class="mw-heading mw-heading3"><h3 id="Wärmestufenprüfung"><span id="W.C3.A4rmestufenpr.C3.BCfung"></span>Wärmestufenprüfung</h3></div>

<p>Die Wärmestufenprüfung wird bei 20 °C Umgebungstemperatur begonnen, die in 10 K-Schritten erhöht wird, bis die obere Betriebsbelastungsgrenze <i>(Upper Operating Limit)</i> der Temperatur erreicht wird. Danach wird die obere Zerstörungsgrenze <i>(Upper Destruct Limit)</i> bestimmt, wenn dies möglich ist. Die jeweilige Verweilzeit in jeder Stufe beträgt ungefähr 10 Minuten. Diese Zeit wird benötigt, damit sich der Prüfling thermisch einschwingt und die Funktion überprüft werden kann.<sup id="cite_ref-Silverman_11-1" class="reference"><a href="#cite_note-Silverman-11"><span class="cite-bracket">[</span>11<span class="cite-bracket">]</span></a></sup><sup id="cite_ref-McLean1_12-1" class="reference"><a href="#cite_note-McLean1-12"><span class="cite-bracket">[</span>12<span class="cite-bracket">]</span></a></sup>

</p>

<div class="mw-heading mw-heading3"><h3 id="Temperaturwechselprüfung"><span id="Temperaturwechselpr.C3.BCfung"></span>Temperaturwechselprüfung</h3></div>

<p>Bei der Temperaturwechselprüfung wird zyklisch mit der maximal möglichen Heiz- und Kühlleistung zwischen zwei Ecktemperaturen hin- und hergefahren. Die Ecktemperaturen, die in dieser Prüfung verwendet werden, orientieren sich an den ermittelten Betriebsbelastungsgrenzen <i>(Lower- and Upper Operating Limit)</i> der Temperaturstufen-Prüfungen. Es werden mindestens fünf Zyklen durchfahren. Der Prüfling muss hierbei permanent überwacht und auf Funktion überprüft werden. Zusätzlich kann bei den Ecktemperaturen der Prüfling ab- und angeschaltet werden, um weiteren Stress zu erzeugen. Die Verweilzeit bei dieser Prüfung beträgt ebenfalls ungefähr 10 Minuten bei der jeweiligen Temperatur.<sup id="cite_ref-Silverman_11-2" class="reference"><a href="#cite_note-Silverman-11"><span class="cite-bracket">[</span>11<span class="cite-bracket">]</span></a></sup><sup id="cite_ref-McLean2_13-0" class="reference"><a href="#cite_note-McLean2-13"><span class="cite-bracket">[</span>13<span class="cite-bracket">]</span></a></sup>

</p>

<div class="mw-heading mw-heading3"><h3 id="Vibrationsprüfung"><span id="Vibrationspr.C3.BCfung"></span>Vibrationsprüfung</h3></div>

<p>Die Vibrationsprüfung beginnt bei circa 5 G<sub>rms</sub> und wird pro Schritt um 5 G<sub>rms</sub> erhöht, bis die Betriebsbelastungs- und Zerstörungsgrenze erreicht wird. Die Funktion des Prüflings muss während der ganzen Prüfung überwacht werden, zusätzlich wird über einen Beschleunigungssensor der einwirkende Vibrationsstress festgehalten. Die Haltezeit beträgt in jeder Stufe circa 10 Minuten. Wird ein Vibrationslevel von 30 G<sub>rms</sub> und höher erreicht, ohne dass ein Fehlerbild aufgetreten ist, sollte die Funktion des Prüflings nochmals bei niedrigeren Stressleveln geprüft werden. Es besteht die Möglichkeit, dass Fehlerbilder, die durch hohe Vibrationslevel verursacht werden, nur bei geringeren Vibrationsleveln detektiert werden können.<sup id="cite_ref-Silverman_11-3" class="reference"><a href="#cite_note-Silverman-11"><span class="cite-bracket">[</span>11<span class="cite-bracket">]</span></a></sup><sup id="cite_ref-McLean3_14-0" class="reference"><a href="#cite_note-McLean3-14"><span class="cite-bracket">[</span>14<span class="cite-bracket">]</span></a></sup>

</p>

<div class="mw-heading mw-heading3"><h3 id="Kombinierte_Stressprüfung"><span id="Kombinierte_Stresspr.C3.BCfung"></span>Kombinierte Stressprüfung</h3></div>

<p>Nachdem die einzelnen Stressprüfungen abgeschlossen sind, kann die kombinierte Stressprüfung, die sich aus der Überlagerung der Temperaturwechsel- und Vibrationsprüfung zusammensetzt, durchgeführt werden. Bei diesem kombinierten Test wird das Temperaturprofil der Temperaturwechselprüfung verwendet. Für die Vibrationsstufen wird der Wert der Zerstörungsgrenze aus dem Vibrationstest geteilt durch fünf Zyklen angewandt. Die Wichtigkeit dieser kombinierten Stressprüfung liegt darin begründet, dass sich mit der Änderung der Temperatur das Vibrationsverhalten vieler Produkte ändert. Hierdurch treten bei dieser Stressprüfung andere Fehlerbilder als bei den Einzeltests auf.<sup id="cite_ref-Silverman_11-4" class="reference"><a href="#cite_note-Silverman-11"><span class="cite-bracket">[</span>11<span class="cite-bracket">]</span></a></sup><sup id="cite_ref-McLean4_15-0" class="reference"><a href="#cite_note-McLean4-15"><span class="cite-bracket">[</span>15<span class="cite-bracket">]</span></a></sup>

</p>

<div class="mw-heading mw-heading2"><h2 id="Testergebnis_und_Ende">Testergebnis und Ende</h2></div>

<p>Ein HALT liefert die folgenden Kenngrößen, bezogen auf die thermischen und mechanischen Belastungen in den einzelnen Prüfungen, für ein Produkt:

</p>

<ul><li>Untere Betriebsbelastungsgrenze <i>(<b>L</b>ower <b>O</b>perating <b>L</b>imit)</i></li>

<li>Obere Betriebsbelastungsgrenze <i>(<b>U</b>pper <b>O</b>perating <b>L</b>imit)</i></li>

<li>Untere Zerstörungsgrenze <i>(<b>L</b>ower <b>D</b>estruct <b>L</b>imit)</i></li>

<li>Obere Zerstörungsgrenze <i>(<b>U</b>pper <b>D</b>estruct <b>L</b>imit)</i></li>

<li>Fundamentale technologische Grenzen <i>(<b>F</b>undamental <b>L</b>imit of <b>T</b>echnology)</i></li></ul>

<p>Die Betriebsbelastungs- und Zerstörungsgrenzen mit den dazugehörigen Margen auf die Entwurfspezifikation sind schematisch in der Abbildung 3 dargestellt. Es ist nicht immer möglich, alle Grenzen bei einer der Prüfung zu ermitteln. In so einem Fall muss die Prüfzeit so bemessen sein, dass eventuell vorhandene Schwachstellen hätten ersichtlich werden müssen.

</p>

<p>Die während des HALT aufgetretenen Fehlerbilder und Beschädigungen werden dokumentiert und analysiert. Die gewonnenen Erkenntnisse fließen als Verbesserungen in das Produktdesign und den Herstellungsprozess ein, so dass am Ende die Robustheit des Produktes verbessert, die Lebensdauer verlängert und die <a href="Ausfallrate" title="Ausfallrate">Ausfallrate</a> gesenkt wird.

</p>

<div class="mw-heading mw-heading2"><h2 id="Kritik">Kritik</h2></div>

<p>Das HALT-Verfahren hat Nachteile und bietet aus diesem Grund Anlass für Kritik. Zum einen gibt es keine Übereinstimmung zwischen den Belastungen im Test und den später im Feld auftretenden realen Umgebungsbedingungen. Aus diesem Grund müssen im Test auftretende Fehler einer sorgfältigen und vorsichtigen Ursachenanalyse unterzogen werden. Dabei ist es wichtig zu klären, ob der aufgetretene Fehler später bei den Belastungen im Feld grundsätzlich auftreten kann oder nicht berücksichtigt werden muss. Um dies beurteilen zu können, ist Erfahrung und Fachwissen über physikalische und chemische Ausfallmechanismen und Ausfallmodelle erforderlich. Des Weiteren gibt es keine wissenschaftliche Grundlage dafür, über statistische Beschleunigungsmodelle und Testergebnisse auf die Lebensdauer des Produkts zu schließen.<sup id="cite_ref-16" class="reference"><a href="#cite_note-16"><span class="cite-bracket">[</span>16<span class="cite-bracket">]</span></a></sup><sup id="cite_ref-17" class="reference"><a href="#cite_note-17"><span class="cite-bracket">[</span>17<span class="cite-bracket">]</span></a></sup> Ein weiterer Nachteil ist, dass im Gegensatz zu anderen Prüfverfahren diese Prüftechnik nicht ausreichend normiert ist<sup id="cite_ref-18" class="reference"><a href="#cite_note-18"><span class="cite-bracket">[</span>18<span class="cite-bracket">]</span></a></sup> und somit die Prüfbedingungen nicht unabhängig reproduzierbar sind.

</p>

<div class="mw-heading mw-heading2"><h2 id="Siehe_auch">Siehe auch</h2></div>

<ul><li><a href="Highly_Accelerated_Stress_Screening" title="Highly Accelerated Stress Screening">Highly Accelerated Stress Screening</a> (HASS) ist ein produktionsbegleitende und nichtzerstörende Zuverlässigkeitsprüfung aller gefertigten Einheiten (100 %).</li></ul>

<div class="mw-heading mw-heading2"><h2 id="Literatur">Literatur</h2></div>

<ul><li>Gregg K. Hobbs: <cite style="font-style:italic">HALT and HASS – Accelerated Reliability Engineering</cite>. Hobbs Engineering Corporation, Westminster, Colorado 2005, ISBN 0-615-12833-5.<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Highly+Accelerated+Life+Test&rft.au=Gregg+K.+Hobbs&rft.btitle=HALT+and+HASS+-+Accelerated+Reliability+Engineering&rft.date=2005&rft.genre=book&rft.isbn=0615128335&rft.place=Westminster%2C+Colorado&rft.pub=Hobbs+Engineering+Corporation" style="display:none"> </span></li>

<li>Harry W. McLean: <cite style="font-style:italic">HALT, HASS, and HASA Explained – Accelerated Reliability Techniques</cite>. Amer Society for Quality, 2009, ISBN 978-0-87389-766-2 (Revised Edition).<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Highly+Accelerated+Life+Test&rft.au=Harry+W.+McLean&rft.btitle=HALT%2C+HASS%2C+and+HASA+Explained+-+Accelerated+Reliability+Techniques&rft.date=2009&rft.genre=book&rft.isbn=9780873897662&rft.pub=Amer+Society+for+Quality" style="display:none"> </span></li>

<li>Arno Meyna, Bernhard Pauli: <cite style="font-style:italic">Zuverlässigkeitstechnik – Quantitative Bewertungsverfahren</cite>. Carl Hanser Verlag, München 2010, ISBN 978-3-446-41966-7.<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Highly+Accelerated+Life+Test&rft.au=Arno+Meyna%2C+Bernhard+Pauli&rft.btitle=Zuverl%C3%A4ssigkeitstechnik+-+Quantitative+Bewertungsverfahren&rft.date=2010&rft.genre=book&rft.isbn=9783446419667&rft.place=M%C3%BCnchen&rft.pub=Carl+Hanser+Verlag" style="display:none"> </span></li>

<li>Mark A. Levin, Ted T. Kalal: <cite style="font-style:italic">Improving Product Reliability: Strategies and Implementation</cite>. John Whiley & Sons, 2003, ISBN 0-470-85449-9.<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Highly+Accelerated+Life+Test&rft.au=Mark+A.+Levin%2C+Ted+T.+Kalal&rft.btitle=Improving+Product+Reliability%3A+Strategies+and+Implementation&rft.date=2003&rft.genre=book&rft.isbn=0470854499&rft.pub=John+Whiley+%26+Sons" style="display:none"> </span></li>

<li>H. Anthony Chan: <cite style="font-style:italic">Accelerated Stress Testing Handbook: Guide for Achieving Quality Products</cite>. Whiley-IEEE Press, 2001, ISBN 0-7803-6025-7.<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Highly+Accelerated+Life+Test&rft.au=H.+Anthony+Chan&rft.btitle=Accelerated+Stress+Testing+Handbook%3A+Guide+for+Achieving+Quality+Products&rft.date=2001&rft.genre=book&rft.isbn=0780360257&rft.pub=Whiley-IEEE+Press" style="display:none"> </span></li></ul>

<div class="mw-heading mw-heading2"><h2 id="Weblinks">Weblinks</h2></div>

<ul><li><a rel="nofollow" class="external text" href="http://www.sgs-cqe.de/images/stories/presse/productronic_halt_12_2006.pdf"><i>Zuverlässigkeit erhöhen – Kosten reduzieren</i> - In: <i>productronic 12/2006</i></a> (deutsch) (PDF; 137 kB; abgerufen am 31. Juli 2014)</li></ul>

<div class="mw-heading mw-heading2"><h2 id="Einzelnachweise">Einzelnachweise</h2></div>

<li id="cite_note-1"><span class="mw-cite-backlink"><a href="#cite_ref-1">↑</a></span> <span class="reference-text"><span class="cite">Gregg K. Hobbs: <a rel="nofollow" class="external text" href="http://www.sandv.com/downloads/0210hobb.pdf"><i>Editorial - The History of HALT and HASS.</i></a> (PDF) In: <i>Sound&Vibration.</i> Oktober 2002, <span style="white-space:nowrap;">S. 5</span>,<span class="Abrufdatum"> abgerufen am 10. August 2014</span>.</span><span style="display: none;" class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Adc&rfr_id=info%3Asid%2Fde.wikipedia.org%3AHighly+Accelerated+Life+Test&rft.title=Editorial+-+The+History+of+HALT+and+HASS&rft.description=Editorial+-+The+History+of+HALT+and+HASS&rft.identifier=http%3A%2F%2Fwww.sandv.com%2Fdownloads%2F0210hobb.pdf&rft.creator=Gregg+K.+Hobbs&rft.date=2002-10"> </span></span>

</li>

<li id="cite_note-2"><span class="mw-cite-backlink"><a href="#cite_ref-2">↑</a></span> <span class="reference-text">Arno Meyna, Bernhard Pauli: <cite style="font-style:italic">Zuverlässigkeitstechnik - Quantitative Bewertungsverfahren</cite>. 2. Auflage. Carl Hanser Verlag, München 2010, ISBN 978-3-446-41966-7, <span style="white-space:nowrap">S.<span style="display:inline-block;width:.2em"> </span>587</span>.<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Highly+Accelerated+Life+Test&rft.au=Arno+Meyna%2C+Bernhard+Pauli&rft.btitle=Zuverl%C3%A4ssigkeitstechnik+-+Quantitative+Bewertungsverfahren&rft.date=2010&rft.edition=2.&rft.genre=book&rft.isbn=9783446419667&rft.pages=587&rft.place=M%C3%BCnchen&rft.pub=Carl+Hanser+Verlag" style="display:none"> </span></span>

</li>

<li id="cite_note-3"><span class="mw-cite-backlink"><a href="#cite_ref-3">↑</a></span> <span class="reference-text"><span class="cite">David Rahe: <a rel="nofollow" class="external text" href="https://web.archive.org/web/20140501212331/http://www.halthass.co.nz/wp-content/uploads/Qualmark_IPC9592A_HALT-HASS.pdf"><i>HALT and HASS in IPC9592A.</i></a> (PDF) Qualmark & DLi Labs, archiviert vom <style data-mw-deduplicate="TemplateStyles:r250917974">

/* start https://de.wikipedia.org/ */

.mw-parser-output .dewiki-iconexternal>a{background-position:center right!important;background-repeat:no-repeat!important}body.skin-minerva .mw-parser-output .dewiki-iconexternal>a{background-image:url("./_mw_/OOjs_UI_icon_external-link-ltr-progressive.svg")!important;background-size:10px!important;padding-right:13px!important}body.skin-timeless .mw-parser-output .dewiki-iconexternal>a,body.skin-monobook .mw-parser-output .dewiki-iconexternal>a{background-image:url("./_mw_/MediaWiki_external_link_icon.svg")!important;padding-right:13px!important}body.skin-vector .mw-parser-output .dewiki-iconexternal>a{background-image:url("./_mw_/Link.ernal-small-ltr-progressive.svg")!important;background-size:0.857em!important;padding-right:1em!important}

/* end https://de.wikipedia.org/ */

</style><span class="dewiki-iconexternal"><a class="external text" href="https://redirecter.toolforge.org/?url=http%3A%2F%2Fwww.halthass.co.nz%2Fwp-content%2Fuploads%2FQualmark_IPC9592A_HALT-HASS.pdf">Original</a></span> (nicht mehr online verfügbar) am <span style="white-space:nowrap;">1. Mai 2014</span><span>;</span><span class="Abrufdatum"> abgerufen am 15. August 2014</span>.</span> <small class="archiv-bot"><span class="wp_boppel noviewer" aria-hidden="true" role="presentation"><span typeof="mw:File"><span title="i"></span></span></span> <b>Info:</b> Der Archivlink wurde automatisch eingesetzt und noch nicht geprüft. Bitte prüfe Original- und Archivlink gemäß Anleitung und entferne dann diesen Hinweis.</small><span style="display:none"><a rel="nofollow" class="external text" href="http://IABotmemento.invalid/http://www.halthass.co.nz/wp-content/uploads/Qualmark_IPC9592A_HALT-HASS.pdf">@1</a></span><span style="display:none"><a rel="nofollow" class="external text" href="http://www.halthass.co.nz/wp-content/uploads/Qualmark_IPC9592A_HALT-HASS.pdf">@2</a></span><span style="display:none">Vorlage:Webachiv/IABot/www.halthass.co.nz</span><span style="display: none;" class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Adc&rfr_id=info%3Asid%2Fde.wikipedia.org%3AHighly+Accelerated+Life+Test&rft.title=HALT+and+HASS+in+IPC9592A&rft.description=HALT+and+HASS+in+IPC9592A&rft.identifier=https%3A%2F%2Fweb.archive.org%2Fweb%2F20140501212331%2Fhttp%3A%2F%2Fwww.halthass.co.nz%2Fwp-content%2Fuploads%2FQualmark_IPC9592A_HALT-HASS.pdf&rft.creator=David+Rahe&rft.publisher=Qualmark+%26+DLi+Labs&rft.source=http://www.halthass.co.nz/wp-content/uploads/Qualmark_IPC9592A_HALT-HASS.pdf"> </span></span>

</li>

<li id="cite_note-4"><span class="mw-cite-backlink"><a href="#cite_ref-4">↑</a></span> <span class="reference-text"><cite style="font-style:italic">IPC-9592A - Requirements for Power Conversion Devices for the Computer and Telecommunications Industries</cite>. IPC, Mai 2010, <span style="white-space:nowrap">S.<span style="display:inline-block;width:.2em"> </span>25–28</span>.<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Highly+Accelerated+Life+Test&rft.btitle=IPC-9592A+-+Requirements+for+Power+Conversion+Devices+for+the+Computer+and+Telecommunications+Industries&rft.date=2010-05&rft.genre=book&rft.pages=25-28&rft.pub=IPC" style="display:none"> </span></span>

</li>

<li id="cite_note-5"><span class="mw-cite-backlink"><a href="#cite_ref-5">↑</a></span> <span class="reference-text"><cite style="font-style:italic">DIN EN 62506:2013-03 - Verfahren für beschleunigte Produktprüfungen (IEC 62506:2013)</cite>. Beuth Verlag GmbH, Berlin 2014, <span style="white-space:nowrap">S.<span style="display:inline-block;width:.2em"> </span>15–21</span>.<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Highly+Accelerated+Life+Test&rft.btitle=DIN+EN+62506%3A2013-03+-+Verfahren+f%C3%BCr+beschleunigte+Produktpr%C3%BCfungen+%28IEC+62506%3A2013%29&rft.date=2014&rft.genre=book&rft.pages=15-21&rft.place=Berlin&rft.pub=Beuth+Verlag+GmbH" style="display:none"> </span></span>

</li>

<li id="cite_note-6"><span class="mw-cite-backlink"><a href="#cite_ref-6">↑</a></span> <span class="reference-text">Gregg K. Hobbs: <cite style="font-style:italic">HALT and HASS - Accelerated Reliability Engineering</cite>. Hobbs Engineering Corporation, Westminster (Colorado) 2005, <span style="white-space:nowrap">S.<span style="display:inline-block;width:.2em"> </span>4</span>.<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Highly+Accelerated+Life+Test&rft.au=Gregg+K.+Hobbs&rft.btitle=HALT+and+HASS+-+Accelerated+Reliability+Engineering&rft.date=2005&rft.genre=book&rft.pages=4&rft.place=Westminster+%28Colorado%29&rft.pub=Hobbs+Engineering+Corporation" style="display:none"> </span></span>

</li>

<li id="cite_note-7"><span class="mw-cite-backlink"><a href="#cite_ref-7">↑</a></span> <span class="reference-text">Mike Silvermann: <cite style="font-style:italic">How Reliable is Your Product? – 50 Ways to Improve Product Reliability</cite>. Super Star Press, Cupertino 2010, ISBN 978-1-60773-060-6, <span style="white-space:nowrap">S.<span style="display:inline-block;width:.2em"> </span>177</span>.<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Highly+Accelerated+Life+Test&rft.au=Mike+Silvermann&rft.btitle=How+Reliable+is+Your+Product%3F+-+50+Ways+to+Improve+Product+Reliability&rft.date=2010&rft.genre=book&rft.isbn=9781607730606&rft.pages=177&rft.place=Cupertino&rft.pub=Super+Star+Press" style="display:none"> </span></span>

</li>

<li id="cite_note-8"><span class="mw-cite-backlink"><a href="#cite_ref-8">↑</a></span> <span class="reference-text"><span class="cite"><a rel="nofollow" class="external text" href="http://www.weiss.info/sixcms/media.php/2335/WUT%20Halt_Hass%20(E)%5B1%5D.pdf"><i>HALT and HASS – Test Equipment For Highly Accelerated Life Test and Stress Screen Applications.</i></a> (PDF) Weiss Umwelttechnik GmbH, 2. Juli 2011, <span style="white-space:nowrap;">S. 11</span>,<span class="Abrufdatum"> abgerufen am 30. Juli 2014</span>.</span><span style="display: none;" class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Adc&rfr_id=info%3Asid%2Fde.wikipedia.org%3AHighly+Accelerated+Life+Test&rft.title=HALT+and+HASS+%E2%80%93+Test+Equipment+For+Highly+Accelerated+Life+Test+and+Stress+Screen+Applications&rft.description=HALT+and+HASS+%E2%80%93+Test+Equipment+For+Highly+Accelerated+Life+Test+and+Stress+Screen+Applications&rft.identifier=http%3A%2F%2Fwww.weiss.info%2Fsixcms%2Fmedia.php%2F2335%2FWUT%2520Halt_Hass%2520%2528E%2529%255B1%255D.pdf&rft.publisher=Weiss+Umwelttechnik+GmbH&rft.date=2011-07-02"> </span></span>

</li>

<li id="cite_note-9"><span class="mw-cite-backlink"><a href="#cite_ref-9">↑</a></span> <span class="reference-text"><span class="cite">Neill Doertenbach: <a rel="nofollow" class="external text" href="http://www.dfrsolutions.com/uploads/services/HALT_grms_calculation_ndoertenbach.pdf"><i>The Calculation of G<sub>rms</sub>.</i></a> (PDF) QualMark Corp.,<span class="Abrufdatum"> abgerufen am 2. August 2014</span>.</span><span style="display: none;" class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Adc&rfr_id=info%3Asid%2Fde.wikipedia.org%3AHighly+Accelerated+Life+Test&rft.title=The+Calculation+of+G%3Csub%3Erms%3C%2Fsub%3E&rft.description=The+Calculation+of+G%3Csub%3Erms%3C%2Fsub%3E&rft.identifier=http%3A%2F%2Fwww.dfrsolutions.com%2Fuploads%2Fservices%2FHALT_grms_calculation_ndoertenbach.pdf&rft.creator=Neill+Doertenbach&rft.publisher=QualMark+Corp."> </span></span>

</li>

<li id="cite_note-10"><span class="mw-cite-backlink"><a href="#cite_ref-10">↑</a></span> <span class="reference-text">Mike Silvermann: <cite style="font-style:italic">How Reliable is Your Product? – 50 Ways to Improve Product Reliability</cite>. Super Star Press, Cupertino 2010, ISBN 978-1-60773-060-6, <span style="white-space:nowrap">S.<span style="display:inline-block;width:.2em"> </span>183</span>.<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Highly+Accelerated+Life+Test&rft.au=Mike+Silvermann&rft.btitle=How+Reliable+is+Your+Product%3F+-+50+Ways+to+Improve+Product+Reliability&rft.date=2010&rft.genre=book&rft.isbn=9781607730606&rft.pages=183&rft.place=Cupertino&rft.pub=Super+Star+Press" style="display:none"> </span></span>

</li>

<li id="cite_note-Silverman-11"><span class="mw-cite-backlink">↑ <sup><a href="#cite_ref-Silverman_11-0">a</a></sup> <sup><a href="#cite_ref-Silverman_11-1">b</a></sup> <sup><a href="#cite_ref-Silverman_11-2">c</a></sup> <sup><a href="#cite_ref-Silverman_11-3">d</a></sup> <sup><a href="#cite_ref-Silverman_11-4">e</a></sup></span> <span class="reference-text">Mike Silverman: <cite style="font-style:italic">Summary of HALT and HASS Results at an Accelerated Reliability Test Center</cite>. In: <cite style="font-style:italic">IEEE – Reliability and Maintainability Symposium Proceedings</cite>. 1998, ISBN 0-7803-4362-X, <span style="white-space:nowrap">S.<span style="display:inline-block;width:.2em"> </span>30–36</span>.<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Highly+Accelerated+Life+Test&rft.atitle=Summary+of+HALT+and+HASS+Results+at+an+Accelerated+Reliability+Test+Center&rft.au=Mike+Silverman&rft.btitle=IEEE+-+Reliability+and+Maintainability+Symposium+Proceedings&rft.date=1998&rft.genre=book&rft.isbn=078034362X&rft.pages=30-36" style="display:none"> </span></span>

</li>

<li id="cite_note-McLean1-12"><span class="mw-cite-backlink">↑ <sup><a href="#cite_ref-McLean1_12-0">a</a></sup> <sup><a href="#cite_ref-McLean1_12-1">b</a></sup></span> <span class="reference-text">Harry W. McLean: <cite style="font-style:italic">HALT, HASS, and HASA Explained – Accelerated Reliability Techniques</cite>. Amer Society for Quality, 2009, ISBN 978-0-87389-766-2, <span style="white-space:nowrap">S.<span style="display:inline-block;width:.2em"> </span>13–14</span> (Revised Edition).<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Highly+Accelerated+Life+Test&rft.au=Harry+W.+McLean&rft.btitle=HALT%2C+HASS%2C+and+HASA+Explained+-+Accelerated+Reliability+Techniques&rft.date=2009&rft.genre=book&rft.isbn=9780873897662&rft.pages=13-14&rft.pub=Amer+Society+for+Quality" style="display:none"> </span></span>

</li>

<li id="cite_note-McLean2-13"><span class="mw-cite-backlink"><a href="#cite_ref-McLean2_13-0">↑</a></span> <span class="reference-text">Harry W. McLean: <cite style="font-style:italic">HALT, HASS, and HASA Explained – Accelerated Reliability Techniques</cite>. Amer Society for Quality, 2009, ISBN 978-0-87389-766-2, <span style="white-space:nowrap">S.<span style="display:inline-block;width:.2em"> </span>15</span> (Revised Edition).<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Highly+Accelerated+Life+Test&rft.au=Harry+W.+McLean&rft.btitle=HALT%2C+HASS%2C+and+HASA+Explained+-+Accelerated+Reliability+Techniques&rft.date=2009&rft.genre=book&rft.isbn=9780873897662&rft.pages=15&rft.pub=Amer+Society+for+Quality" style="display:none"> </span></span>

</li>

<li id="cite_note-McLean3-14"><span class="mw-cite-backlink"><a href="#cite_ref-McLean3_14-0">↑</a></span> <span class="reference-text">Harry W. McLean: <cite style="font-style:italic">HALT, HASS, and HASA Explained – Accelerated Reliability Techniques</cite>. Amer Society for Quality, 2009, ISBN 978-0-87389-766-2, <span style="white-space:nowrap">S.<span style="display:inline-block;width:.2em"> </span>15–16</span> (Revised Edition).<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Highly+Accelerated+Life+Test&rft.au=Harry+W.+McLean&rft.btitle=HALT%2C+HASS%2C+and+HASA+Explained+-+Accelerated+Reliability+Techniques&rft.date=2009&rft.genre=book&rft.isbn=9780873897662&rft.pages=15-16&rft.pub=Amer+Society+for+Quality" style="display:none"> </span></span>

</li>

<li id="cite_note-McLean4-15"><span class="mw-cite-backlink"><a href="#cite_ref-McLean4_15-0">↑</a></span> <span class="reference-text">Harry W. McLean: <cite style="font-style:italic">HALT, HASS, and HASA Explained – Accelerated Reliability Techniques</cite>. Amer Society for Quality, 2009, ISBN 978-0-87389-766-2, <span style="white-space:nowrap">S.<span style="display:inline-block;width:.2em"> </span>16–17</span> (Revised Edition).<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Highly+Accelerated+Life+Test&rft.au=Harry+W.+McLean&rft.btitle=HALT%2C+HASS%2C+and+HASA+Explained+-+Accelerated+Reliability+Techniques&rft.date=2009&rft.genre=book&rft.isbn=9780873897662&rft.pages=16-17&rft.pub=Amer+Society+for+Quality" style="display:none"> </span></span>

</li>

<li id="cite_note-16"><span class="mw-cite-backlink"><a href="#cite_ref-16">↑</a></span> <span class="reference-text">Luis A. Escobar, William Q. Meeker: <cite style="font-style:italic">A Review of Accelerated Test Models</cite>. Hrsg.: Institute of Mathematical Statistics. 2. August 2007, <a href="ArXiv" title="ArXiv">arxiv</a>:<a rel="nofollow" class="external text" href="https://arxiv.org/abs/0708.0369">0708.0369</a>.<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Highly+Accelerated+Life+Test&rft.au=Luis+A.+Escobar%2C+William+Q.+Meeker&rft.btitle=A+Review+of+Accelerated+Test+Models&rft.date=2007-08-02&rft.genre=book" style="display:none"> </span></span>

</li>

<li id="cite_note-17"><span class="mw-cite-backlink"><a href="#cite_ref-17">↑</a></span> <span class="reference-text">Wayne B. Nelson: <cite style="font-style:italic">Accelerated Testing - Statistical Models, Test Plans, and Data Analysis</cite>. John Wiley & Sons, Inc., New York 2004, ISBN 0-471-69736-2, <span style="white-space:nowrap">S.<span style="display:inline-block;width:.2em"> </span>37–39</span>.<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Highly+Accelerated+Life+Test&rft.au=Wayne+B.+Nelson&rft.btitle=Accelerated+Testing+-+Statistical+Models%2C+Test+Plans%2C+and+Data+Analysis&rft.date=2004&rft.genre=book&rft.isbn=0471697362&rft.pages=37-39&rft.place=New+York&rft.pub=John+Wiley+%26+Sons%2C+Inc." style="display:none"> </span></span>

</li>

<li id="cite_note-18"><span class="mw-cite-backlink"><a href="#cite_ref-18">↑</a></span> <span class="reference-text">Arno Meyna, Bernhard Pauli: <cite style="font-style:italic">Zuverlässigkeitstechnik - Quantitative Bewertungsverfahren</cite>. 2. Auflage. Carl Hanser Verlag, München 2010, ISBN 978-3-446-41966-7, <span style="white-space:nowrap">S.<span style="display:inline-block;width:.2em"> </span>588</span>.<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Highly+Accelerated+Life+Test&rft.au=Arno+Meyna%2C+Bernhard+Pauli&rft.btitle=Zuverl%C3%A4ssigkeitstechnik+-+Quantitative+Bewertungsverfahren&rft.date=2010&rft.edition=2.&rft.genre=book&rft.isbn=9783446419667&rft.pages=588&rft.place=M%C3%BCnchen&rft.pub=Carl+Hanser+Verlag" style="display:none"> </span></span>

</li>

</ol>

</div><div><div class="zim-footer">

Dieser Artikel wurde von <a class="external text" title="Zuletzt bearbeitet am 2025-06-25" href="https://de.wikipedia.org/wiki/?title=Highly_Accelerated_Life_Test&oldid=257355949">Wikipedia</a> herausgegeben. Der Text ist unter <a class="external text" href="https://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0/deed.de">Creative Commons Attribution-Share Alike 4.0</a> verfügbar, sofern nicht anders angegeben. Für die Mediendateien können zusätzliche Bedingungen gelten.

</div>

</div></div>

</div>

</main>

</div>

</body></html>